日本初のＸ線反射率法に関する専門書が９年ぶりの増補改訂。原理、実験方法、データ解析法、多彩な材料への応用事例を網羅。なぜこれほど精密な解析ができるのか、どんな点に注意を払わなくてはいけないかなどについて、ユーザーの視点からていねいに解説。この１冊で機能薄膜の構造解析が自由自在に。
【本書の特徴】
・表面・界面におけるＸ線の全反射現象の基礎をわかりやすく説明した。
・実験方法やデータ解析法を具体例とともにていねいに解説した。
・なぜこれほど精密な解析ができるのか、どんな点に注意を払わなくてはいけないかなどについて、ユーザーの立場から詳細に解説した。
・半導体、磁性体、光学多層膜、固液界面、有機薄膜、液体表面などの応用事例を紹介し、中性子の利用についても取り上げた。
